Atominės jėgos mikroskopas
Atominės jėgos mikroskopas (AJM – angl. AFM) – labai aukštos rezoliucijos skenuojančio zondo mikroskopas. AJM yra vienas iš svarbiausių įrenginių vaizduojant, matuojant arba manipuliuojant nano matmenų medžiagas. Informacija yra surenkama jaučiant paviršių su mechaniniu zondu.
Darbo režimai
[redaguoti | redaguoti vikitekstą]Yra keli atominės jėgos mikroskopo darbo režimai:[1]
- kontaktinis
- nekontaktinis
- dinaminio kontaktavimo
Šaltiniai
[redaguoti | redaguoti vikitekstą]
|
Šis straipsnis apie fiziką yra nebaigtas. Jūs galite prisidėti prie Vikipedijos papildydami šį straipsnį. |